MITSUBISHI MCP-370四點探針

金屬薄膜，導電涂料，導電塑料等的表面和體積電阻率測量可以通過4探針法制備。只需將4探針探針壓在樣品上即可輕松測量，標準規格和選項。

MCP - T 700低電阻率電阻率計

Loresta AX MCP-T370簡易低電阻率計

RORESTA-AX MCP-T370簡易型低電阻率計

4探針法介紹機。便利型是過程管理的理想選擇。

MCP - T370簡化低電阻率計

UX MCP - HT 800高電阻率電阻率計

UX MCP - HT 800高電阻率電阻率計

通過恒壓施加·雙環法，可以測量紙和塑料薄膜等表面和抗靜電材料的電壓電阻率。

MCP - HT 800高電阻率電阻率計

電阻率自動測量系統大型測繪系統MCP-S620型·MCP-S521型

自動電阻率測量系統大型測繪系統MCP-S620·MCP-S521

MCP-T370　簡易型低抵抗率計

簡易型低電阻率表（測量范圍10 - 2至106Ω）

它是一種方便的電阻率計。 可以在線進行簡單檢查。

特點

通過專用的四探針探針，可以一次性高精度地測量各種材料的電阻率。

只需按下開始按鈕，即可找到穩定值并自動加載[自動保持]功能以確認測量值。

采用鎳氫電池可以驅動電池，更換電池組變得容易。

添加了探測檢查模式。 使用探頭檢查器（另售），您可以輕松檢查Loresta AX主機和探頭的精度。

測量數據可以輸出到USB存儲器。

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標準規格

測量方法4端子4探針法

恒流應用方法

測量范圍10-2至106Ω

標準設備在線4探針探針（ASP）AC適配器

可選探頭

輸入應用類型

ESP非均勻樣品MCP-TP 08 P.

PSP小樣品，用于薄膜的MCP-TP 06 P.

QP2 MCP-TPQP 2用于微量樣品

MCP-TFP用于TFP硅晶圓或玻璃基板上的薄膜