蔡司掃描電鏡Sigma系列

　　用于高質(zhì)量成像和高級(jí)分析顯微鏡的 FE-SEM

　　蔡司掃描電鏡Sigma 系列將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術(shù)與出色的用戶體驗(yàn)相結(jié)合。構(gòu)建您的成像和分析程序并提高工作效率。研究新材料、用于質(zhì)量檢驗(yàn)的顆粒或生物或地質(zhì)標(biāo)本。在高分辨率成像方面毫不妥協(xié)——轉(zhuǎn)向低電壓并在 1 kV 或更低電壓下受益于增強(qiáng)的分辨率和對(duì)比度。使用一流的 EDS 幾何結(jié)構(gòu)執(zhí)行高級(jí)分析顯微鏡，并以兩倍的速度和更高的精度獲得分析數(shù)據(jù)。

　　使用 Sigma 系列，您將進(jìn)入高端納米分析的世界。

　　Sigma 360 是核心成像設(shè)備的選擇——用于成像和分析的直觀 FE-SEM。

　　Sigma 560 使用一流的 EDS 幾何結(jié)構(gòu)來(lái)提供高通量分析并實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化原位實(shí)驗(yàn)。

　　Sigma 360

　　核心設(shè)施的選擇。直觀的采集。

　　從設(shè)置到基于 AI 的結(jié)果得到專業(yè)指導(dǎo)。探索直觀的成像工作流程。

　　查看 1 kV 及以下的差異。實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)的分辨率和優(yōu)化的對(duì)比度。

　　在極端情況下執(zhí)行 VP 成像，以在非導(dǎo)體上獲得出色的結(jié)果。

　　直觀的成像工作流程指導(dǎo)您

　　從設(shè)置到基于 AI 的結(jié)果即使您是新手，也能獲得專業(yè)的結(jié)果。易于使用、易于學(xué)習(xí)的工作流程讓您受益于快速成像并節(jié)省培訓(xùn)時(shí)間，讓您簡(jiǎn)化從導(dǎo)航到后處理的每個(gè)步驟。

　　ZEISS SmartSEM Touch 中的軟件自動(dòng)化讓您從導(dǎo)航、參數(shù)設(shè)置和圖像采集開(kāi)始。

　　然后 ZEN core 發(fā)揮作用：它帶有特定于任務(wù)的工具包，最適合后處理。最推薦的是： AI Toolkit 可讓您根據(jù)機(jī)器學(xué)習(xí)分割圖像。將多模式實(shí)驗(yàn)與 Connect Toolkit 相結(jié)合。或者使用材料應(yīng)用程序分析微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸或?qū)雍瘛?