北京可靠性加速壽命試驗(yàn)服務(wù)CNAS檢測(cè)報(bào)告 

北京可靠性加速壽命試驗(yàn)服務(wù)CNAS檢測(cè)報(bào)告 北京可靠性測(cè)試機(jī)構(gòu)加速壽命試驗(yàn) 北京CNAS和CMA檢測(cè)報(bào)告 第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu) 可靠性及壽命試驗(yàn)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室供應(yīng)高加速壽命試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)、可靠性例行試驗(yàn)、可靠性型式試驗(yàn)、可靠性預(yù)計(jì)評(píng)估檢測(cè)報(bào)告。檢測(cè)咨詢 彭工 136 9109 3503

針對(duì)材料件、電子元器件、電子組件、電子整機(jī)乃至電子系統(tǒng)的高可靠、長壽命指標(biāo)驗(yàn)證的需求，本公司利用自身專家多年在軍工和民用領(lǐng)域多年開展加速試驗(yàn)技術(shù)研究取得的成果和技術(shù)服務(wù)積累的經(jīng)驗(yàn)，可為用戶提供一套完善的裝備加速試驗(yàn)與壽命/可靠性快速評(píng)價(jià)整體解決方案，提出了一套五位一體的加速試驗(yàn)與快速評(píng)價(jià)模式——充分利用歷史數(shù)據(jù)評(píng)估和預(yù)測(cè)成套裝備/系統(tǒng)的可靠性/壽命趨勢(shì)、基于加速試驗(yàn)技術(shù)驗(yàn)證整機(jī)/部組件可靠性/壽命目標(biāo)要求符合性、開展板級(jí)電路與元器件壽命特征檢測(cè)深入查找產(chǎn)品內(nèi)部缺陷、針對(duì)關(guān)鍵元器件和材料件（密封件）開展加速退化試驗(yàn)和檢測(cè)分析、可靠性/壽命綜合評(píng)價(jià)等五個(gè)方面為確定裝備長壽命/高可靠性指標(biāo)提供支撐。

高加速試驗(yàn)一般分為寶加速壽命試驗(yàn)和高加速應(yīng)力應(yīng)力篩選試驗(yàn)，高加速壽命試驗(yàn)（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗(yàn)）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測(cè)試，是一種協(xié)助設(shè)計(jì)工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預(yù)先設(shè)定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應(yīng)力，直至失效，試驗(yàn)中需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測(cè)。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗(yàn)產(chǎn)品通過HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后所做的高加速應(yīng)力篩選,應(yīng)力低于HALT試驗(yàn)。
通過壽命試驗(yàn)，可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結(jié)合失效分析，可進(jìn)一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機(jī)理，作為可靠性 設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)測(cè)、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗(yàn)條件等的依據(jù)。如果為了縮短試驗(yàn)時(shí)間可在不改變失效機(jī)理的條件下用加大應(yīng)力的方法進(jìn)行試驗(yàn)，這就是加速壽命試驗(yàn)。　　

加速壽命試驗(yàn)典型應(yīng)力類型：

低溫步進(jìn)應(yīng)力：
1、以常溫或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的溫度點(diǎn)作為起始溫度，開始試驗(yàn)；
2、以一定的溫度步進(jìn)進(jìn)行降溫，一般為10℃；
3、保留時(shí)間至少為10min+穩(wěn)定時(shí)間+功能性能測(cè)試時(shí)間；
4、逐步增加，直到達(dá)基礎(chǔ)技術(shù)限制為止。

高溫步進(jìn)應(yīng)力：
1、以常溫或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的溫度點(diǎn)作為起始溫度，開始試驗(yàn)；
2、以一定的溫度步進(jìn)進(jìn)行升溫，一般為10℃；
3、保留時(shí)間至少為10min+穩(wěn)定時(shí)間+功能性能測(cè)試時(shí)間；
4、逐步增加，直到達(dá)基礎(chǔ)技術(shù)限制為止。

快速熱循環(huán)試驗(yàn)：
1、根據(jù)高溫步進(jìn)應(yīng)力和低溫步進(jìn)應(yīng)力結(jié)果確定高溫溫度和低溫溫度值；
2、以一定的溫度變化速率進(jìn)行溫度循環(huán)試驗(yàn)，一般推薦使用40℃/min或者60℃/min；
3、高低溫保留時(shí)間至少為10min+穩(wěn)定時(shí)間+功能性能測(cè)試時(shí)間；
4、試驗(yàn)循環(huán)推薦進(jìn)行5個(gè)循環(huán)。

振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力：
1、以5Grms或者10Grms作為起始振動(dòng)量級(jí)，開始試驗(yàn)；
2、以一定的振動(dòng)步進(jìn)進(jìn)行耐久振動(dòng)，一般為5Grms；
3、保留時(shí)間至少為10min+穩(wěn)定時(shí)間+功能性能測(cè)試時(shí)間；
4、逐步增加，直到達(dá)基礎(chǔ)技術(shù)限制為止。

綜合應(yīng)力試驗(yàn)：
綜合快速熱循環(huán)和振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力同步進(jìn)行試驗(yàn)，在每一個(gè)快速熱循環(huán)試驗(yàn)循環(huán)中，體現(xiàn)不同的振動(dòng)量級(jí)，在每一個(gè)循環(huán)中進(jìn)行性能測(cè)試。

高加速壽命試驗(yàn)篩選的目的 :

1、利用高環(huán)境應(yīng)力,提早使產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來,從而消除設(shè)計(jì)缺陷,大大提高設(shè)計(jì)可靠性；

2、維修費(fèi)用大大降低 ,因?yàn)榻桓兜漠a(chǎn)品具有更高的可靠性；

3、了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式；

4、HALT能找出產(chǎn)品的工作極限和破壞極限,為制定 HASS(高加速應(yīng)力篩選) 方案，確定 HASS 的應(yīng)力量級(jí)提供依據(jù)；

5、大大減少鑒定試驗(yàn)時(shí)的故障，經(jīng)過 HALT的產(chǎn)品，鑒定試驗(yàn)已不重要，僅是一種形式而已。

北京可靠性測(cè)試機(jī)構(gòu) CNAS和CMA認(rèn)可檢測(cè)機(jī)構(gòu) 提供電工電子產(chǎn)品可靠性技術(shù)評(píng)估服務(wù)，出具權(quán)威檢測(cè)報(bào)告或第三方檢測(cè)證明。
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