MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀

概述：新的MiniTest700涂層測厚儀產品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領導地位。 - 創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性 - 測量范圍達15mm

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2025-05-15 08:40:24 點擊93086次

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MiniTest725 MiniTest735 MiniTest745 MiniTest700 涂層測厚儀

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新的MiniTest700涂層測厚儀產品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領導地位。
- 創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性
- 測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內置或外接探頭
- FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯
優點一覽

- SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內置換為外置)
- FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
- 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
- 生產過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
- 大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
- 讀數和統計值能單獨調出
- 超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
- 菜單指引操作，25種語言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
- 可下載更新軟件
MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀技術參數
主機

主機型號	MiniTest720	MiniTest730	MiniTest740
探頭類型	內置	外置	內置外置可換
數據記憶組數	10	10	100
存儲數據量	最多10,000個	最多10,000個	最多100,000個
統計值	讀值個數、最小值、最大值、平均值、標準方差、變異系數、組統計值(標準設置/自由配置)
校準程序符合國際標準和規范	ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調節補償值
極限值監控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
數據接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
操作溫度 /存放溫度	- 10℃~60℃/- 20℃~70℃
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內置)/230g(外置)

MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀技術參數

探頭特性		F1.5，N07，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
		F	N	F	F	N	F
測量范圍		0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍		小工件，薄涂層		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理		磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理		探頭內部32位信號處理(SIDSP)
精確度		±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)			±(5μm+0.75%讀值)
重復性		±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)			±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率		0.05μm		0.1μm			1μm
最小曲率半徑(凸)		1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半徑	(凹，外置探頭)	7.5mm		10mm			25mm
	(凹，內置探頭)	30mm		30mm			30mm
最小測量面積		Ø5mm		Ø10mm			Ø25mm
最小基體厚度		0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續模式下測量速度		每秒20個讀數
單值模式下最大測量速度		每分鐘70個讀數

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