TEM透射電子顯微鏡檢測服務(wù) 

【儀器簡介】

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2nm的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。

【功能/應(yīng)用范圍】

納米材料，高分子材料，半導(dǎo)體材料，介觀材料，微孔材料等的形貌觀察、結(jié)構(gòu)分析和微區(qū)在線元素分析。

【主要附件】

能量散射X射線分析系統(tǒng)（EDS），Oxford，INCA CCD相機，1K*1K，Gatan794 TV相機，Gatan 雙傾加熱臺（Heating Specimen Holder），Gatan，最高加熱溫度1000攝氏度 Piezo漂移補償系統(tǒng) JEE400蒸鍍儀

主要技術(shù)指標(biāo)：點分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm，放大倍率200-1500000。