北京儀綜所實(shí)驗(yàn)室，具備CNAS和CMA檢測(cè)資質(zhì)，提供高溫、低溫測(cè)試服務(wù)，出具第三方機(jī)構(gòu)檢測(cè)報(bào)告。測(cè)試找張工13911260297.

 

一、高溫試驗(yàn)：

不帶電貯存：70℃，保持48h，恢復(fù)2h，測(cè)試設(shè)備是否工作正常；

帶電工作：55℃，保持工作狀態(tài)，觀察設(shè)備是否正常工作；

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GJB 150.3A-2009、GBT2423.2等。

 

二、低溫試驗(yàn)：

不帶電貯存：-40℃，保持24h，恢復(fù)2h。測(cè)試設(shè)備是否工作正常；

帶電工作：-20℃，保持工作狀態(tài)，觀察設(shè)備是否正常工作；

參考標(biāo)準(zhǔn)：GJB 150.4A-2009、GBT2423.1等。

 

三、濕熱試驗(yàn)：

本試驗(yàn)應(yīng)按GB/T2423.4試驗(yàn)Db進(jìn)行。除性能檢測(cè)外，不得對(duì)被試裝置通電。

溫度：+55℃和+25℃；

周期數(shù)：2（呼吸效應(yīng)）；

時(shí)間：2×24h.

 

高低溫試驗(yàn)方法

先將箱溫調(diào)至25℃±3℃，并保持此值，相對(duì)濕度調(diào)至45%~75%進(jìn)行2h~6h穩(wěn)定溫度處理。在最后1h

內(nèi)，將箱內(nèi)相對(duì)濕度提高至不低于95%，溫度仍保持25℃±3℃。穩(wěn)定階段之后循環(huán)開始，使箱溫在2.5h~3h內(nèi)由25℃±3℃連續(xù)上升到55℃±2℃，這期間除最后15min內(nèi)相對(duì)濕度不低于90%外，升溫階段相對(duì)濕度都不應(yīng)低于95%，以使試品表面產(chǎn)生凝露，但不得在大型試驗(yàn)樣品上產(chǎn)生過量凝露。然后在溫度為55℃±2℃的高溫高濕環(huán)境下保持到從循環(huán)開始算起12h±0.5h止。這一階段的相對(duì)濕度，除最初和最后的15min內(nèi)不低于90%外，均應(yīng)為（93±3）%。然后在3h~6h內(nèi)，將箱溫由55℃±2℃降至25℃±3℃。最初1.5h的降溫速率為10℃/h，這期間的相對(duì)濕度除最初的15min內(nèi)不低于90%外，其他時(shí)間均不低于95%。降溫之后，溫度保持25℃±3℃，相對(duì)濕度不低于95%，從循環(huán)開始算起24h為一周期。

 

 

北京恒定交變濕熱溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

 

北京儀綜所檢測(cè)機(jī)構(gòu)，提供恒定濕熱、交變濕熱、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)，是具備CNAS和CMA資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)，出具第三方檢測(cè)報(bào)告。測(cè)試找張工13911260297.

濕熱測(cè)試是產(chǎn)品三防（防潮、防霉、防鹽霧）試驗(yàn)之一，被廣泛用于電子電工技術(shù)領(lǐng)域。可以為各類電工電子設(shè)備、電氣元件、各類材料等進(jìn)行溫度循環(huán)、恒定濕熱、交變濕熱等環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，并出具國家認(rèn)可的檢測(cè)報(bào)告。

 

一、什么是濕熱試驗(yàn)：

 

濕熱試驗(yàn)技術(shù)主要用在：

1、探索潮濕環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的影響（開發(fā)、設(shè)計(jì)階段的研究性試驗(yàn)）。

2、鑒定產(chǎn)品的防潮性能（研制、生產(chǎn)階段的質(zhì)量檢查或型式試驗(yàn)）。

3、評(píng)價(jià)產(chǎn)品在潮濕環(huán)境下使用的安全可靠性（安全或可靠性試驗(yàn)）。

 

二、濕熱試驗(yàn)的意義：

 

恒定濕熱通過先升溫再升濕（先降濕再降溫）的方法避免產(chǎn)生凝露，主要是通過高溫高濕環(huán)境下樣品對(duì)水汽吸附、吸收和擴(kuò)散等作用，造成產(chǎn)品失效。

 

交變濕熱則是在高濕條件下，利用溫度循環(huán)引起的凝露和干燥的交替過程，使進(jìn)入樣品內(nèi)部的水汽產(chǎn)生呼吸作用，從而使腐蝕過程加速。

 

三、濕熱試驗(yàn)的國家標(biāo)準(zhǔn)：

 

GB 10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法

GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

 

 

 

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