STIL光譜納米位移傳感器ENDO-ON-DUO 

岱珂機電設備  黃生   186-7670-6083

STIL光譜共焦位移傳感器OP-ON-CCS

STIL光譜共焦位移傳感器CL-MG-ON-CCS

STIL光譜共焦位移傳感器END-ON-CCS

STIL光譜共焦位移傳感器CL-MG-ON-DUO

STIL光譜共焦位移傳感器OP-ON-DUO

STIL光譜共焦位移傳感器ENDO-ON-DUO

STIL光譜共焦位移傳感器CLIR-MGIR

STIL白光干涉測量傳感器OPILB

STIL光譜共焦位移傳感器是由法國STIL公司生產的，光譜共焦位移傳感器是基于光譜共焦原理制成的一款高精度位移傳感器，最小分辨率可達到2nm。采樣率達100Hz-30KHz。常用于測透明物體的厚度，如測薄膜、玻璃、透明膠、透明液體。且可測多層厚度用于表面粗糙度分析、表面輪廓分析、劃痕測量、孔內徑測量應用非常廣泛，且精度高，不受表面材料的影響。

STIL的光學傳感器在三維非接觸式測量中有著最前端的技術。我們的傳感器基于穿新的光學原理，幾乎能夠測量任何類型的材料，具有特殊的精確度。STIL傳感器可應用在幾乎所有的工業領域。計量或研究實驗室內，將它作為高精密儀器，或者用作生產線的質量控制工具。工業環境使用時，由于STIL的簡單的接口，能夠與測量和檢測設備集成。

1.粗糙度測量：

STIL傳感器可測量最小幾個納米的粗糙度。獲取粗糙度文件速度比普通的探針式快很多，而且不會對表面造成劃痕的風險。