Loresta - GX MCP - T 700低電阻率電阻率計

三菱化學Loresta-GX高精度四探針儀MCP-T700

MITSUBISHI MCP-370四點探針

金屬薄膜，導電涂料，導電塑料等的表面和體積電阻率測量可以通過4探針法制備。只需將4探針探針壓在樣品上即可輕松測量，標準規格和選項。

 

MCP - T 700低電阻率電阻率計

 

Loresta AX MCP-T370簡易低電阻率計

RORESTA-AX MCP-T370簡易型低電阻率計

 

4探針法介紹機。便利型是過程管理的理想選擇。

MCP - T370簡化低電阻率計

UX MCP - HT 800高電阻率電阻率計

UX MCP - HT 800高電阻率電阻率計

 

通過恒壓施加·雙環法，可以測量紙和塑料薄膜等表面和抗靜電材料的電壓電阻率。

 

MCP - HT 800高電阻率電阻率計

 

電阻率自動測量系統大型測繪系統MCP-S620型·MCP-S521型

自動電阻率測量系統大型測繪系統MCP-S620·MCP-S521

 

MCP-T370　簡易型低抵抗率計

簡易型低電阻率表（測量范圍10 - 2至106Ω）

它是一種方便的電阻率計。 可以在線進行簡單檢查。

 

特點

通過專用的四探針探針，可以一次性高精度地測量各種材料的電阻率。

 

只需按下開始按鈕，即可找到穩定值并自動加載[自動保持]功能以確認測量值。

采用鎳氫電池可以驅動電池，更換電池組變得容易。

添加了探測檢查模式。 使用探頭檢查器（另售），您可以輕松檢查Loresta AX主機和探頭的精度。

測量數據可以輸出到USB存儲器。

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標準規格

測量方法4端子4探針法

恒流應用方法

測量范圍10-2至106Ω

標準設備在線4探針探針（ASP）AC適配器

可選探頭

輸入應用類型

ESP非均勻樣品MCP-TP 08 P.

PSP小樣品，用于薄膜的MCP-TP 06 P.

QP2 MCP-TPQP 2用于微量樣品

MCP-TFP用于TFP硅晶圓或玻璃基板上的薄膜

 

 

 

MCP-HT800　高抵抗　抵抗率計

使用

Hiresta-UX是一種測量電阻率的測量儀器，它是材料的評估標準之一。

 

通過測量各種高電阻材料的表面電阻率和體積電阻率，它可用于生產技術，質量控制，研究和開發。

抗靜電材料可以輕松準確地測量和開發生產線的質量控制，或最先進材料的表面電阻率和體積電阻率。

 

該儀器是符合JIS K6911的測量方法，可以通過各種探針測量各種材料，如塑料，薄膜，涂料。

為了穩定地測量具有106Ω或更高電阻的材料，雙環測量是最好的。

我們的探頭采用雙環電極。

主要測量對象

防靜電材料，建筑材料，地板材料，各類紙張，包裝材料，油漆，纖維，混凝土，陶瓷，樹脂，薄膜等。

特點

必要時，高精度地測量高電阻區域的表面電阻率和體積電阻率

 

與Hiresta UP（104至1013）相比，測量范圍從103擴大到1014Ω

施加電壓范圍為1至1000 V，29種方式。 此外，通過施加電壓的自動掃描功能，

電阻值的電壓特性測量是可能的。

開關盒的內置功能（測量體積電阻率所需的可選項）。

通過簡單地連接寄存器表，就可以測量音量響應速率。

可以使用用于Hiresta UP的常規探針

2000測量結果可以輸出到USB存儲器

標準規格

測量方法恒壓應用/漏電流測量方法

數據顯示640×480點7.5英寸全彩TFT液晶觸摸屏

可以分別設置轉換器上限值和下限值

探頭專用MCP探頭URS，UR，UR-SS，UR-100，UA，J Box X型

數據輸出USB存儲器

電源AC 85 - 264 V 47 - 63 Hz

尺寸·重量W330×D270×H 113 mm

[本信息來自于今日推薦網]