四探針
所有分類下結果硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產品特點
■ 同時檢
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規定設計。 它主要由電器測量部份（主機）及
北廣精儀四探針電阻率測試儀BEST-300C
適用范圍四端測試法是目前較先進之測試方法，主要針對高精度要求之產品測試；本儀器廣泛用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區上地十街1號院2號樓21層2105
BEST-300C高溫四探針電阻率測試儀
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析.
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區上地十街1號院2號樓21層2105
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產品特點
■ 同時檢
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規定設計。 它主要由電器測量部份（主機）及
北廣精儀四探針電阻率測試儀BEST-300C
適用范圍四端測試法是目前較先進之測試方法，主要針對高精度要求之產品測試；本儀器廣泛用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區上地十街1號院2號樓21層2105
BEST-300C高溫四探針電阻率測試儀
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析.
[北京 儀器儀表] 北京/海淀/上地街道 北京市海淀區上地十街1號院2號樓21層2105
