測(cè)量和控制
所有分類下結(jié)果反射內(nèi)存卡VMIC-5565多模 PMC-5565 PCIE-5565

美國(guó)進(jìn)口VMIC反射內(nèi)存卡GE公司測(cè)量和控制解決方案產(chǎn)業(yè)部在以傳感器為基礎(chǔ)的測(cè)量、檢驗(yàn)、資產(chǎn)狀態(tài)監(jiān)測(cè)、控制和輻射測(cè)量解決方案的方面是一個(gè)領(lǐng)先的變革者,解決方案在廣泛的行業(yè)里
[北京 其他儀器儀表] 北京/海淀/四季青